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平面度測量廣泛需求在手機玻璃面板，手機外殼，汽車玻璃，柔性電路板等平面類產品。目前測量平面度的方法和工具主要有以下幾種：
1、塞尺人工測量平面度。
2、探針采點測量平面度。
3、影像自動對焦采點測量平面度。
4、激光采點測量平面度。
以上幾種平面度測量方法優缺點不一，塞尺測量平面度是屬于原始的接觸測量方式，人工投入成本較高，效率一般，對操作人員要求不高。通過塞尺直接接觸產品，經常會劃傷工件，而且測量出平面度數值誤差較大，誤判的幾率大。
探針采點測量平面度，計算機軟件支持測量，具有精度較高，但是測量速度慢的缺點，不能測量易變形工件的平面度，而且投入成本也不低。
影像測量平面度屬于非接觸測量的一種，由于是通過光學對焦測量平面度的，操作人員在測量一些玻璃或容易反光的產品，無法實現正常對焦測量。
激光測量平面度同樣屬于非接觸測量，計算機軟件支持測量，高度自動化，可編程CNC，效率特別高，測量速度快，測量精度高，重復性精度也高，非接觸式測量，能保證工件不受破壞。的缺點就是前期成本投入比其他幾種方法高。
關于激光測量的設備，極志這里有兩種類型：
左邊的設備單激光平面度檢測儀，采用非接觸式測量，激光探頭測量，測量準確性高，保證工件的完整性；采用傳動模組、模塊化設計及全新人性化設計的軟件，對屏幕保護膜平面度和翹曲度以及厚度進行率、非接觸的測量。
測量重復精度為：0.005mm。
右邊的機器是多激光平面度測量儀，如果您的工件需要批量全檢，這臺機器是您的得力好幫手。它不僅可以根據客戶工件需求量身定做規格機型，而且測量精度高、使用方便。
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