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[科研院所]芯片引腳平整度測量，解決芯片引腳插片問題2021年09月22日 21:08: 主板芯片的插片方式除了可更換的組件外常見使用的是引腳插片的方式進行，自動插件生產線對芯片引腳的平整度要求非常高，如果芯片引腳平整度未通過高精度測量則會引發很多生產問題出現。芯片引腳平整度指的是低引腳腳底與高引腳的垂直偏差，如果平整度超出了公差，那么在自動插件生產線上就會出現引腳位置錯誤、斷腳、撞歪等問題，嚴重點會導致插件生產線受損，即使引腳插片位置未發生錯誤也會影響后續的波峰焊或者錫爐焊，所以芯片引腳的平整度測量十分重要。極志激光平整度測量儀可輕松勝任高精度無損的引腳測量項目。; 閱讀（536）標簽：激光平面度測量儀|平面度測量儀

[科研院所]半導體膜襯底平整度測量，助力半導體行業良性發展2021年04月12日 23:03: 半導體膜襯底主要是起支撐和改善薄膜特性的作用。薄膜生長在襯底上，襯底材料性質和襯底表面形狀對薄膜的特性有很大的影響，因為薄膜一般厚度尺寸在納米至微米之間，要求襯底表面有超高平整度；薄膜和襯底的結合也是一個非常重要的方面，如果兩者晶格不匹配，則在薄膜形成初期階段會形成一個較長的過渡區域。如果襯底的平整度不佳就會影響到半導體膜的均勻性并導致后續的芯片封裝等工序無法正常運行，所以半導體膜襯底的平整度需要高精度測量，傳統的測量方法無論是精度亦或者上手難易度都無法滿足半導體科研、制作等場景所要求的標準，所以極志激光平整度測量儀成為了半導體膜襯底的平整度測量理想設備。; 閱讀（179）標簽：激光平面度測量儀|平面度測量儀|全自動影像測量儀