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LCP薄膜厚度測量，上下激光實時出數(shù)據(jù)|雙激光厚度測量儀

來源：極志測量瀏覽：- 發(fā)布日期：2023-04-17 22:36:08【大中小】

LCP薄膜是一種特殊的絕緣材料，具備低吸濕、耐化性佳、高阻氣性以及低介電常數(shù)等特性，也是國際上公認的5G信號天線必不可少的絕緣材料。LCP具有優(yōu)異的電學特征，在高達110GHz的全部射頻范圍，幾乎能保持恒定的介電常數(shù)，一致性好；正切損耗非常小，僅為0.002，即使在110 GHz時也只增加到0.0045，非常適合毫米波應用；熱膨脹特性非常小，可作為理想的高頻封裝材料。由于要兼顧5G基站的的功能性以及安全性，LCP薄膜必須兼顧低損耗以及較強的導熱性，所以LCP薄膜的厚度要求十分苛刻，膜厚要達到75μm以下才適用于5G的建設(shè)中，所以使用上下激光測厚儀進行LCP薄膜是理想的選擇。

LCP薄膜厚度測量

這個說法并非空穴來風，一般的測厚工具面對LCP這類擁有柔軟以及有彈性的產(chǎn)品都會束手無策，無法精確的獲得LCP薄膜厚度，雙激光厚度測量儀無需接觸到LCP表面更不會對其表面施加壓力來測量，僅需要將薄膜放置在測量臺就能實時的獲得高精度厚度數(shù)據(jù)，還不會劃傷薄膜表面，是一個省時省力的高精度測量設(shè)備。激光測厚儀操作簡單無需培訓既能輕松操作，無論是抽檢還是全檢都能高效率的完成，設(shè)備體積小、質(zhì)量輕、方便攜帶，可連接電腦測量數(shù)據(jù)可輸出到表格方便后續(xù)查閱，是LCP薄膜生產(chǎn)企業(yè)不可多得的得力測量助手。