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芯片引腳正位度測量,無損縮減人工成本

芯片引腳正位度測量,無損縮減人工成本

IC引腳是指內部電路引出與外圍電路的接線,引腳構成了這塊芯片的接口,主要為主電源、外接芯片口、多功能i/o、以及傳感器、通信和復位這三類。因此,在組裝線路板確保質量問題重要因素:IC引腳的平面度和尺寸大小與線路板正位度相符,從而控制和提高產品的質量一直是電子行業注重的內容。人工檢測引腳的腳針,由于腳針很小,員工的眼睛很容易疲勞,從而影響生產效率。如果引腳的正位度不足那么在芯片的自動安裝線上就有可能出現芯片安裝位置不正確、芯片脫落的情況,更有甚者會直接將芯片壓壞直接報廢,所以引腳的正位度非常重要,那如果想要高精度且無損測量引腳正位度的話建議使用極志全自動影像測量儀進行。

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多種o型圈一臺搞定,高精度測量僅需一鍵

多種o型圈一臺搞定,高精度測量僅需一鍵

O型圈被廣泛應用到機械行業的密封環境中,即使O型圈的尺寸與密封性能密切相關,但也有相當一部分的廠商不太了解O型圈怎么測量直徑、壁厚、凹槽、圓心度等等項目,其實測量O型圈的外形尺寸僅需要一臺閃測儀就能完成。由于O型圈的工作環境十分惡劣,常常要處于高壓、強震動、極度高低溫等環境,如果O型圈的尺寸精度不符合工作環境的要求就很有可能會使用一段時間后出現各種各樣的安全事故,但也因為其環境的特殊性導致O型圈的材質較為柔軟,這導致測量O型圈的外觀十分困難。長久以來O型圈的測量工具都是卡尺一類的接觸式工具,在測量的過程中由于O型圈會因為兩端的壓力發生形變,導致測量的數據十分不準確,只能靠測量人員的主觀判斷,也正因如此經常會出現誤差相對較大的情況,這嚴重影響了O型圈生產企業的長久發展。除此之外,測量用人成本、測量項目繁多、O型圈表面不良等等都是制約O型圈企業的關鍵原因,極志綜合各類問題建議廠商使用一鍵式測量儀進行O型圈的測量。

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屏幕偏光片平面度翹曲度測量,柔性工件皆可高精度測量

屏幕偏光片平面度翹曲度測量,柔性工件皆可高精度測量

偏光片在我們日常生活中隨處可見,只要有屏幕的地方就有它的身影。無論是電視的還是手機的顯示模組都需要使用到偏光片。下偏光片的作用是將背光板的光源轉換成偏振光,上偏光片就是解析偏振光形成對比,這樣才能顯示出我們看到的屏幕畫面,缺失偏光片的顯示模組我們看到時一片白色。偏光片在生產時需要將不同功能的膜進行滾動貼合,在這個過程中由于不同的膜都自身的硬度,加上軸向尺寸的影像,容易導致偏光片產生彎曲變形,偏光片翹曲度程度不同都會影響終的顯示效果,所以偏光片在生產結束時需要使用翹曲度測量儀進行翹曲度測量。

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手機微云臺組件高精度測量,影像測量儀無損快速完成

手機微云臺組件高精度測量,影像測量儀無損快速完成

“云臺”一次相信大家都不會陌生,其作用就是為拍攝設備提供一個像云一樣的拍攝平臺,過濾掉大量的振動,讓設備拍出來的圖片更加清晰,即使在運動的情況也同樣清晰。一直以來云臺都屬于外設,沒有嵌入到電子設備中,而在“微云臺”出現之后這一切都改變了,云臺技術被國產電子設備廠商vivo整合到手機當中,擺脫了手機只有電子防抖的困境,加入了機械防抖。微云臺內部構造特別復雜,雙滾珠懸架、鏡頭、音圈馬達、雙S型FPC排線、T-FPC、磁動力框架,初的設計由于體積太大占用了主板的大部分面積,讓其他的手機硬件無法進行合理的安裝,經過不斷地改進與精細化,才有了如此小體積的“微云臺”。如此多精密零件互相緊密配合才能完成其高穩定的功能性,每件零件的公差稍微超出公差標準,組裝完成后的整體公差會大大超出保證性能的硬件外觀標準,想要測量高精度零件的尺寸就需要使用到高精度影像測量儀了。

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手機蓋板玻璃平面度測量,激光無損快速提升玻璃質量

手機蓋板玻璃平面度測量,激光無損快速提升玻璃質量

隨著新行業標桿“iphone12”的發布會臨近,人們對于手機的屏幕素質關注度到了新的高度,但無論是內屏硬件有何修改,外屏玻璃的高標準并未降低,平面度同樣是重要的素質檢驗標準之一。手機蓋板玻璃平面度不達標會在消費者的日常使用中有直觀的體驗,如觸摸反饋區域偏移、觸控區域凹凸不平等等。除此之外,手機玻璃平面度不達標還會造成在零件安裝線,由于平面度不足,抓取觸手抓取位置偏移,玻璃安裝的位置出錯,擠壓其他手機零部件,更有甚者會直接對生產線造成損傷,所以手機蓋板玻璃在使用前需要高精度測量平面度

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汽車燈罩外形尺寸測量,高精度無損二次元測量方法

汽車燈罩外形尺寸測量,高精度無損二次元測量方法

我國作為汽車制造大國之一,汽車配件制造也同樣是業內的主力,燈罩在消費者的思維里可能只是一個塑料殼子,但是更換的價格需要成百上千,這是由于這個“塑料殼子”里蘊含著現代工業制造技術。汽車燈罩的作用并不單單是保護里面的燈具免受風吹雨打所折磨,還兼具了折射光源保護對向行人、車輛安全的功能,這使得汽車燈罩的外形尺寸精度要求十分嚴格。傳統的測量方式只能靠人工使用通用型工具進行簡單的長寬測量,很容易受到環境和測量人員的影響導致測量數據產生較大的偏差,稍有不慎還有可能在燈罩表面留下劃痕,沒有辦法精確的測量汽車燈罩的外形尺寸和保護其表面光潔度。想要無損高精度地測量汽車燈罩外形尺寸各個項目,較好的方法是使用極志激光影像測量儀。

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PCB電路板平面度翹曲度測量,這個方法精度高更方便

PCB電路板平面度翹曲度測量,這個方法精度高更方便

PCB在進入貼片工序前都需要進行平面度、翹曲度的測量,為的是保證在自動貼片生產線上各組件不會因為PCB的翹曲度超出公差而出現位置錯誤、貼片偏移、壓花、壓壞等問題。PCB電路板上遍布銅線,不能使用塞尺等接觸式工具進行測量,否則會刮花、刮損漆面和表面銅線,但PCB電路板具有是具有韌性的,無論是生產時的溫度濕度亦或者是運輸中的長期應力都有可能使PCB電路板的平面度、翹曲度超出公差,不測量很難再進行后面的工序。根據IPC-A-600G第2.11平整度標準: 對于表面安裝元件(如SMT貼裝)的印制板其扭曲和弓曲標準為不大回于0.75%,其它類型的板答為不大于1.5%。預示著即使小心的使用接觸式工具進行測量過后還需要繁雜的計算,那么有沒有更方便快捷的高精度測量方法?極志激光平面度測量儀兼具高精度、快速、無損以及操作簡單等特點。

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晶圓彎曲度翹曲度測量,高精度測量使鍵合更容易

晶圓彎曲度翹曲度測量,高精度測量使鍵合更容易

晶圓鍵合需要晶圓本體的翹曲度嚴格按照標準,這是因為晶圓的精度不足會導致無法完全鍵合。晶圓的直接鍵合不需要在添加中間介層以及外加電場,只需要將兩片表面平整度和光潔度都很高的晶圓緊密結合就能完成。晶圓直接鍵合質量的優劣會對微機械系統的性能形成直接影響,其中鍵合前后晶圓的翹曲度是影響鍵合質量的主要誘因之一,晶圓的翹曲度越小,表面越平整,克服彈性變型所做的功就越小,晶圓也就越容易鍵合。晶圓既要高精度測量翹曲度的同時也要保留其表面的光潔度,傳統的百分表、塞尺一類的測量工具和測量方法都無法使用,唯有激光翹曲度測量儀能夠快速高精度且無損地測量晶圓的翹曲度。

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削弱柔性屏折痕,需要高精度測量平面度

削弱柔性屏折痕,需要高精度測量平面度

當前手機行業除了5G熱點之外,柔性屏看似漸漸淡去實則并未發力,早前各大廠商都發布了自己有關柔性屏、折疊屏的相關產品,這只是一個廠商們展示實力的方式,并未真正的落實將折疊屏成為手機標配來進行生產,俗稱“試水”。折疊柔性屏由于其柔軟的特性,表面會出現波紋,特定的燈光下柔性屏表面會有凹凸不平的效果,想要降低此類情況出現的幾率提高產品形象就要做到延展完成后的柔性屏與背板緊密貼合,此時的柔性屏平整度就需要嚴格遵守平整度公差標準才能降低波紋所帶來的產品形象影響。一般的測量工具無法勝任柔性屏所需的高精度以及光潔度,極志激光平面度測量儀相較于常規測量工具更具優勢。

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LED透鏡同心度測量,極志影像測量儀無損完成

LED透鏡同心度測量,極志影像測量儀無損完成

LED燈除了內部的銀膠、金線、晶片外,還會在外面蓋上一個透鏡,這個透鏡能起到保護LED等作用,重要的特性就是它能起到改變LED光場的分布。LED透鏡常見的半橢圓的形狀,如果透鏡的頂端不在透鏡的中央,那么證明這個透鏡的同心度已經不適合用于LED的制作了,如果透鏡的同心度不足就會出現LED的光場分布不均勻、光通率下降等,還有可能因為同心度不足而引發的LED內部組件被擠壓的情況,所以LED透鏡嚴格測量其同心度才能進行后續的組裝。常見的透鏡都是采用透明的材質如環氧樹脂、玻璃等等,使得透鏡的表面極易刮傷,無法使用接觸式工具進行同心度的測量,所以極志半自動影像測量儀是解決透鏡同心度測量難題的好方法。

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蘋果后殼曝光|測量手機后蓋玻璃平面度很關鍵

蘋果后殼曝光|測量手機后蓋玻璃平面度很關鍵

近日在社交媒體上有爆料人士分享了新的蘋果12后蓋玻璃照片,可能是受國內手機廠商的快速追趕影響,爆料中的后蓋玻璃上面帶有LiDAR激光雷達掃描儀攝像頭(LiDAR激光雷達通過發射、接收紅外激光來測量目標距離,同時進行測量成像)布局,也預示著手機后蓋玻璃需要開孔更加精密且難度更高。如果玻璃蓋板的平面度超出公差,那么安裝完成后的攝像頭就會出現割手的情況,手機的密封性以及安全性也會大大縮減,所以手機玻璃的平整度以及翹曲度都不能馬虎,嚴格測量。手機玻璃因為性能需求,材質硬度非常大邊緣也異常的薄,導致脆性也大的同時邊緣也十分脆弱,使用塞尺等工具進行測量容易導致玻璃破裂,即使沒有破裂也容易刮花磨損玻璃表面導致玻璃報廢,使用激光平面度測量儀能很好的規避玻璃測量的各種問題。

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晶圓厚度、平面度獨立測量方案

晶圓厚度、平面度獨立測量方案

晶圓、晶圓作為芯片的基材一直都廣受關注,自5G時代開始以來研發芯片都是我國的重點之一,晶圓需求也同步上漲更是成為了緊俏品,這與晶圓高精度外觀要求息息相關。晶圓制備方法是硅錠切割再加工,切割技術、設備磨損、硅錠材料等因素都會影響切割后的晶圓外觀尺寸,加上晶圓表面光潔度的嚴格要求,到底什么設備才能適用于晶圓的平面度、厚度、外觀尺寸的測量呢?

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小于0.1毫米的機器人,每1um都需要高精度測量

小于0.1毫米的機器人,每1um都需要高精度測量

近日學術期刊《自然》新發表一篇電子學研究論文,描述了一個行走的微型四腳機器人的誕生。這些微型機器人腿部的尺寸大小小于0.1毫米,內部的太陽能電池收到光照后就能提供動能驅動新型制動器進行移動,微型機器人未來發展的方向可用于醫學、電子設備等領域。機器人一直以來都是科研人員的智慧結晶,不同的體型不同的工作方式則賦予了不同的使命,將機器人縮小并使其能夠服務于所有人,不得不佩服研發人員。機器人屬于高精密高科技的產物,微型機器人亦是如此。科研的道路并不平攤,一直以來都是用各項數據堆砌才成就了今天的現代社會。極志力求用測量數據幫助每個科研機構突破技術難關。

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精密坩堝尺寸測量,無損完成提升坩堝品質

精密坩堝尺寸測量,無損完成提升坩堝品質

坩堝作為高溫環境下的物質承載工具,常見于金屬、制藥、石油化工等領域,坩堝的精度影響其自身的各項功能,所以坩堝需要高精度影像測量儀來完成,一般的工具可能夠用但不能僅僅適用。坩堝的各項外觀尺寸都影響著其性能,如壁厚影響導熱溫度與受熱均勻性、直徑深度等影響坩堝的體積與安裝使用等等。固體物質融化后的溶液容易藏在坩堝內壁表面的劃痕內,還有一部分坩堝材料硬度大且壁厚較薄,在運輸的過程中都需要倍加小心更不用說使用常規工具致使鍋壁出現劃痕碎裂,如果想要更好以及更方便地測量坩堝的各項外觀尺寸,建議使用影像測量儀來完成測量工序。

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激光測量屏蔽罩平整度,無損測量保障功能完整

激光測量屏蔽罩平整度,無損測量保障功能完整

屏蔽罩的功能決定著電子產品的性能,如果平整度不足則容易導致電子產品的性能減弱或者導致電子元件受損,所以屏蔽罩需要高精度測量來確保自身的品質。屏蔽罩能幫助電子元件隔絕外界電磁場的干擾之外,還能減弱元器件自身的電磁輻射擴散,也承擔了一部分散熱的功能,如果屏蔽蓋的平整度沒有嚴格控制,很容易就會出現擠壓元器件或者抗干擾以及散熱功能的缺失。屏蔽罩體積較小厚度較薄,稍加應力就有可能會造成其彎曲,使得屏蔽罩的平整度測量過程十分困難,使用常規的工具無法在不傷害屏蔽罩表面的情況下進行平整度的測量,異形的屏蔽罩也無法使用,所以測量屏蔽罩較為理想的方法是使用激光平整度測量儀來完成。

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軸承切削、合套位置在線測量設備

軸承切削、合套位置在線測量設備

隨著制造技術的發展,實現產品制造的自動化與智能化已成為必然趨勢。目前,采用軸承軸瓦加工平面度在線自動檢測設備已成為軸承生產自動化技術現代化的主要標志。由于具有通用性強、工作可靠的優點,軸承加工生產在線檢測平面度設備受到了廠商重視越來越多的重視。軸承加工生產平面度在線檢測儀的優勢: ①抗弧光和飛濺,實時跟蹤,自動適應 ②非接觸,支持多種加工類型 ③提高生產效率和加工質量,提高工件良品率 ④沒有設備要求,所有軸承生產機床都可裝備并使用

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激光高精度SIM卡翹曲度測量,減少磨損卡斷等狀況

激光高精度SIM卡翹曲度測量,減少磨損卡斷等狀況

手機SIM卡是與外界的溝通橋梁,但不要小看這張面積不大的卡片,SIM卡也需要高精度測量翹曲度才能正常使用。現在的智能移動設備主流SIM卡安裝的設計是卡托,加上智能手機由于功能需求非常大導致零部件數量也隨之上升,給SIM卡預留的位置不會有多余的面積來防止SIM卡磨損、卡斷等情況出現,手機內部緊湊設計也導致SIM卡常常因為手機長時間使用熱量上升,而SIM卡除去金屬片外的基體大部分使用的都是塑料,經過長時間的高溫后很容易出現彎曲等情況,從而導致SIM卡卡死無法拔出,所以無論是SIM卡出廠還是經過高溫烘烤測試后,都需要使用激光翹曲度測量儀進行SIM卡翹曲度的測量。

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雙極板平面度測量,流場流道激光高精度測量

雙極板平面度測量,流場流道激光高精度測量

燃料電池雙極板流場流道決定反應氣和生成物質的流動狀態,只有平面度和翹曲度合格才能使電極均勻的獲得反應氣和把生成的水排出去,保證了燃料電池性能穩定。燃料電池的性能達不到理想效果的主要原因之一就是雙極板流道的平面度和翹曲度不合格所導致,所以燃料電池的性能離不開雙極板流道的平面度測量。極志測量激光平面度測量儀(ITN-L3-350)通過激光測頭高精度獲取雙極板流道的平面度以及翹曲度等各項數據,同時具備了高精度以及率的特性。除此之外,使用激光平面度測量機進行測量還不會磨損雙極板表面,保證了雙極板的氣密性和穩定性等功能不會因為磨損造成缺失。

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鋰電池極片涂布平面度、平整度測量,在線無損完成

鋰電池極片涂布平面度、平整度測量,在線無損完成

鋰電池的極片涂布是將漿料均勻涂覆在正負極集流體上的工序,這道工序要求的各項數據都非常嚴苛,這是因為稍有不慎就會直接導致電池失效,嚴重點還會發生安全事故,而涂布的各項數據中有一項數據是重中之重:平整度。由于是將漿料擠壓通過模頭狹縫的,無論是溫度、速度、漿料等都會導致涂布完成后出現平整度超出公差值得情況,平整度不滿足公差就會導致涂布的一致性被破壞,容易導致后續出現氣泡、凹陷、厚邊等情況的發生,直接影響鋰電池品質。由于涂布漿料非常容易被刮損,所以塞尺、千分表等工具無法滿足鋰電池極片涂布平整度測量的要求,加上涂布完成后無法隨意移動,導致鋰電池極片涂布平整度測量十分棘手,而極志在線平整度測量儀能很好的解決涂布平整度測量的顧慮。

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極志測量祝天問一號火星探測任務圓滿成功

極志測量祝天問一號火星探測任務圓滿成功

北京時間2020年7月23日12:41,長征五號遙四運載火箭從海南文昌航天發射中心一飛沖天,帶著天問一號開啟前往火星的征途。毫無疑問,這是中國航天的里程碑時刻,標志著我國向深空探測邁出重要一步的同時也是我國完全自主實現火星探測的步。從2010年立項到今已過去十年,但我國航空航天的科研人員十年如一如的堅守,終將“劍”出竅。如果本次任務完成,也代表著我國的火星探測器發射技術位于全球位置,繞、落、尋一步到位,做一件事很簡單,但把事做到,這正是是我國人民良好品質的重要體現。

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